Новый алгоритм выявит микродефекты в оптоволоконных линиях

Новый алгоритм обработки сигналов для диагностики оптоволоконных линий и фотонных чипов разработали российские ученые. Метод эффективно подавляет собственные шумы измерительных приборов, но при этом не искажает данные о реальных повреждениях.

«Даже самые совершенные фотонные структуры имеют слабые места. Например, при изготовлении волокна или оптического чипа могут появиться незаметные дефекты: неровная стенка, соринка в месте соединения или внутреннее напряжение. В оптоволоконной детали (например, в разветвителе) со временем от вибраций или перепадов температуры может возникнуть микротрещина», — рассказал «Известиям» один из разработчиков метода Антон Кривошеев.

Чтобы решить проблему, сообщил он, был предложен новый алгоритм. Он анализирует сигнал по участкам и, если видит хаотичные колебания, сглаживает их как шум, а если замечает резкий скачок, оставляет его нетронутым, считая отражением реального дефекта.

По словам ученого, испытания на реальном оборудовании показали нулевое искажение пиков. Это позволяет получать «чистую картину» повреждений на оптоволоконных линиях и при тестировании фотонных чипов.

Как считают исследователи, разработка актуальна, к примеру, для таких сфер, как телекоммуникации, нефтегазовая отрасль или системы «умного города», где фотонные устройства объединены в распределенные сети.

В разработке приняли участие ученые Института механики сплошных сред Уральского отделения РАН и Пермского национального исследовательского политехнического университета.

Подробнее читайте в эксклюзивном материале «Известий»:

Свет в оптоволокне: новый прибор выявит дефекты на линиях скоростного интернета